如何測量晶振信號中的低相位噪聲？

如何測量晶振信號中的低相位噪聲？  測量和監(jiān)控晶振中的相位噪聲水平非常重要，因為它會因晶體老化或其他外部因素（如振動、溫度和 g 力）而隨時間變化。 感興趣的朋友不要劃走，請跟隨晶光華小編一起去了解：

相位噪聲是在頻率范圍內(nèi)測量的，并被繪制成信號振幅，與頻率相對。因此很難直接觀察相位噪聲。對于噪聲較大的信號，可在頻譜分析上清楚的看到。在這種情況下，頻譜儀上原本的晶振噪聲高于被測量的晶振噪聲，這使得直接觀測相位噪聲變得非常困難，因此必須增大敏感性測試。

在相當(dāng)干凈的晶振信號中測量相位噪聲的最常用方法是將兩個晶振相比較，大多數(shù)相位噪聲測量系統(tǒng)都使用這種方法。

超低相位噪聲參考晶振設(shè)計，為在與被測單元完全相同的頻率下工作，然后將該信號和被測晶振的信號反饋到相位檢測器，然后將它們的相對相位噪聲調(diào)整并鎖定在90度偏移處，同時載波頻率被混頻器移除，現(xiàn)在混合到基頻率的殘余噪聲調(diào)制仍然存在，然后將該信號放大以增加靈敏度。

現(xiàn)在可以使用帶寬非常低的分析儀更仔細(xì)地檢查這種殘留的放大殘余噪聲。這些讀數(shù)通常表示為邊帶噪聲功率的比率（在中心頻率到載波信號功率的給定偏移距離處以1Hz帶寬測量。）

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